高熱驚厥預后情況與如下幾個因素有關：

1. 發作持續時間。高熱驚厥發作10分鐘以上可能造成神經細胞損害，30分鐘以上則半數將遺留不同程度的神經功能障礙。

2. 發作次數。發作次數越多，預后越差，復發10次以上者有半數預后不良。

3. 初發年齡。1歲以內發作者，預后較差，因這一時期腦代謝旺盛，易致代償不全面影響神經功能。

4. 如果發作前已有神經系統異常者往往預后較差，有人認為約45%將遺留智力低下。

5. 家族史。家族中有驚厥發作患者，日后轉為癲癇的可能性大。